Immer die Nase vorn

Neues Raster-Elektronen-Mikroskop für schnellere Materialanalyse.

Bereits seit 30 Jahren, nämlich seit 1983, arbeitet Entwicklung und Qualität bei GUIDO mit eigenen Raster-Elektronen-Mikroskopen (REM). REM verfügen über eine Auflösung bis 1 Nanometer (ein menschliches Haar misst 100.000 Nanometer im Durchmesser) und gleichzeitig eine mindestens 10 mal höhere Tiefenschärfe als Lichtmikroskope.

Diese Eigenschaften in Verbindung mit der Möglichkeit jederzeit mit einer Spektralanalyse (EDX) die chemische Zusammensetzung am Betrachtungsort zu bestimmen machen diese Geräte in der Werkstofftechnik unverzichtbar.

Die Sommerpause wurde bei GUIDO genutzt das bisher eingesetzte REM durch ein Gerät auf neuestem technologischen Stand zu ersetzen. Die Materialanalyse (EDX) kann nun auch schneller, genauer und ohne Bereitstellung von Flüssigstickstoff durchgeführt werden.

Eine Investition damit GUIDO auch künftig technologisch an der Spitze bleibt.